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采用溶膠-凝膠法通過納米粒度儀正硅酸四乙酯（TEOS）堿催化水解，在Fe3O4納米粒子表面包裹氧化硅。利用生物倒置顯微鏡、場發射透射電鏡、X射線衍射儀、激光粒度儀、振動樣品磁強計對氧化硅/Fe3O4復合粒子的外貌、粒徑及粒徑分布、飽和磁化強度、化學成分進行了表征。結果表明，所制得的復合粒子性能良好，粒徑在15nm左右，飽和磁化強度為109emu/g。用該磁性納米復合粒子提取質粒DNA和基因組DNA取得良好的效果，可用于食品中致病菌的分析判定和疾病的基因診斷分析。真正納米級（100納米以細）顆粒（是指分散良好的納米顆粒）的測量，不宜用激光粒度儀。可以選動態光散粒度儀或電子顯微鏡。但要注意，有的納米顆粒實際是團聚體，其單體尺寸或許小于100納米，但團聚體的尺寸在100納米以粗甚至幾個微米，這時仍然應該選用激光粒度儀。

對分布特別窄的樣品，比如納米粒度儀、復印機和激光打印機用的碳粉、單分散標準顆粒、高精度磨料微粉等等，應該用電阻法顆粒計數器或顯微圖像法粒度儀。如果需要測量粒度分布主峰以外的低含量粗顆粒或細顆粒，就不能按常規方法用激光粒度儀測量。而要用沉降法分離出粗顆粒或細顆粒后再用激光粒度儀測量。也可用其他方法比如顯微鏡輔助觀察。因此對于粒度分布范圍不超出0.1微米至1000微米，對分辨率及少量粗顆粒和細顆粒的測量靈敏度要求不是太高的樣品，都可以選用激光粒度儀。