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圓柱形電極差分遷移的納米粒度儀(DMA)和矩形板電極的新型DMA

更新時間:2018-09-10 點擊數:2346

圓柱形電極差分遷移的納米粒度儀(DMA)和矩形板電極的新型DMA

在該工作中,現有的圓柱形電極差分遷移的納米粒度儀(DMA)和矩形板電極的新型DMA用于在高氣溶膠流速下對納米顆粒進行尺寸分級。兩種DMA能夠以200slm至500slm的氣體流速輸送單分散尺寸的所選納米顆粒(SMPSσg<1.1)。在200slm的氣溶膠流速下,圓柱形DMA的最大可達到的顆粒平均尺寸為約20nm,而矩形板DMA的最大可達顆粒平均尺寸為約50nm。由高流量DMA輸送的單分散納米顆粒的數量濃度范圍為104 cm-3至106 cm-3,具體取決于顆粒平均尺寸和顆粒尺寸分散。版權所有2014美國氣溶膠研究協會。

納米粒度儀(PSA)和掃描電子顯微鏡(SEM)和UV-可見分光光度計表征合成的產物。 XRD圖譜證實了合成樣品的四方結構。使用Debye-Scherrer公式從X射線譜展寬確定合成的納米顆粒的平均微晶尺寸。通過溶膠 - 凝膠法合成未摻雜和摻雜銀的TiO 2納米顆粒(Ti 1-x Ag x O 2,其中x = 0.00-0.10)。通過X射線衍射(XRD),隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃,微晶尺寸在8到33nm之間變化。與未摻雜的TiO 2相比,摻入3至5%Ag +代替Ti 4+引起納米晶體尺寸的減小。 SEM顯微照片顯示顆粒的團聚球形形態。 SEM,PSA和XRD測量顯示粉末的顆粒尺寸為納米級。光學吸收測量表明在銀摻雜時吸收帶邊緣發生紅移。通過UV-Vis光譜儀測量的未摻雜和Ag摻雜的TiO 2納米顆粒的直接允許帶隙在500℃下分別為3.00和2.80eV。


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