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納米粒度儀發出的激光通過甬道進入樣品集散地中的粒子上，粒子的散射光通過接收光路進入光電探測器，然后自相關函數G（2-1）光強度由數字相關器獲得。在這種情況下，是t激光光電倍增管（PMT）放大/鉗位數字相關器計算機入射透鏡樣品池微孔圖案2.1基于動態光散射原理的納米粒度分析儀的基本原理靜止過程，t = 0。根據高斯光場的Siegert關系，可以得到反映整個光學系統空間相干性的光學自相關函數的參數，稱為空間相干因子，這主要取決于系統的光學性質。對于單分散粒子系統，在（2-3）中，τ是延遲時間; Γ是線寬（或衰減率），其表達式是：粒子的平移擴散系數，q是散射矢量，n是溶劑。折射率θ是散射角，它是真空中光的波長。

對于球形顆粒，納米粒度儀根據顆粒直徑d具有以下關自相關操作的表征和物理意義。可以看出用于測試納米顆粒的粒度的動態光散射原理的理論基礎。在外界條件決定的條件下，粒徑僅與光強自相關函數的線寬（衰減率）有關，即動態光散射原理納米粒度分析儀中最關鍵和最主要的任務是獲得散射光。自相關函數，粒度測試方法中的動態光散射法（DLS）也變為光子相關光譜（PCS）。相關技術是一種常用于處理隨機過程和噪聲理論的方法。通常使用時間自相關函數，其特征定義為時間散射光強度信號（即每單位時間的光子數），τ是延遲時間，包括>表示時間平均值，T是總測試時間。自相關函數不是實際時間t的函數，而是延遲時間的函數。