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由于粉體材料顆粒的形狀不可能都是均勻球形的，納米粒度儀有各種各樣的結(jié)構(gòu)，因此，在大多數(shù)情況下粒度分析儀所測的粒徑是一種等效意義上的粒徑，和實(shí)際的顆粒大小分布會有一定的差異，因此只具有相對比較的意義。等效粒徑（D）和顆粒體積（V）的關(guān)系可以用表達(dá)式D=1.24V1/3表示。此外，各種不同粒度分析方法獲得的粒徑大小和分布數(shù)據(jù)也可能不能相互印證，不能進(jìn)行絕對的橫向比較。 由于粉體材料的顆粒大小分布較廣，可以從納米級到毫米級，因此在描述材料粒度大小時(shí)，可以把顆粒按大小分為納米顆粒、超微顆粒、微粒、細(xì)粒、粗粒等種類。依據(jù)這些顆粒的種類可以采用相應(yīng)的粒度分析方法和儀器。近年來，隨著納米科學(xué)和技術(shù)的迅速發(fā)展。

納米材料的顆粒分布以及顆粒大小已經(jīng)成為納米粒度儀材料表征的重要指標(biāo)之一，在普通的材料粒度分析中，其研究的顆粒大小一般在100nm~1ｕm尺寸范圍。面對納米材料研究，其zui關(guān)注的尺度范圍。按原理分較先進(jìn)的三種典型方法是：高速離心沉降法、激光粒度分析法和電超聲粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范圍不同，又劃分為光衍射法和動(dòng)態(tài)光散射法。衍射法主要針對微米、亞微米級顆粒；散射法則主要針對納米、亞微米級顆粒的粒度分析。電超聲粒度分析方法是zui新出現(xiàn)的粒度分析方法，主要針對高濃度體系的粒度分析。納米材料粒度分析的特點(diǎn)是分析方法多，主要針對高濃度體系的粒度分析。